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實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C

實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C

簡要描述：
實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C

技術參數
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本誤差≤±2.5%FS
重復性誤差≤±0.5%FS
短期漂|移（30分鐘） ： ≤±0.5%FS

產品時間：2024-08-29

訪問量：668

廠商性質：生產廠家

生產地址：

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實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C

技術參數
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本誤差≤±2.5%FS
重復性誤差≤±0.5%FS
短期漂|移（30分鐘） ： ≤±0.5%FS
長|期|漂|移(24小時） ： ≤±2.5%FS
化學方法 ：硅鉬蘭光度法GB 12150—89


實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C

技術參數
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本誤差≤±2.5%FS
重復性誤差≤±0.5%FS
短期漂|移（30分鐘） ： ≤±0.5%FS
長|期|漂|移(24小時） ： ≤±2.5%FS
化學方法 ：硅鉬蘭光度法GB 12150—89


實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C

技術參數
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本誤差≤±2.5%FS
重復性誤差≤±0.5%FS
短期漂|移（30分鐘） ： ≤±0.5%FS
長|期|漂|移(24小時） ： ≤±2.5%FS
化學方法 ：硅鉬蘭光度法GB 12150—89


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