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磁性材料自動測量系統 ZX311-MATS-3000M

磁性材料自動測量系統 ZX311-MATS-3000M

簡要描述:
磁性材料自動測量系統 ZX311-MATS-3000M

裝置技術參數
1、工作環境
輸入電源 單相200V~240V,50Hz±10%,大10A
使用環境 環境溫度:23±5℃;環境濕度:30~75%RH
外磁場干擾 應絕對避免
熱平衡時間 10分鐘

產品時間:2023-04-13

訪問量:991

廠商性質:生產廠家

生產地址:

磁性材料自動測量系統 ZX311-MATS-3000M

MATS磁性材料自動測量系統
ZX311-MATS-3000M硅鋼材料測量裝置
產品簡介
MATS-3000M/K50B硅鋼材料測量裝置是基于computer(計算機)、Software 軟件、A/D數據采集和ARM嵌入式系統等技術應用條件下的磁測量設備。
MATS-3000M/K50B硅鋼材料測量裝置運用數字波形補償和數字反饋技術,可準確測量電工鋼片(帶)、坡莫合金、非晶和納米晶等軟磁材料材料在40Hz~1.2kHz頻率范圍內的交流磁性參數:比總損耗Ps、磁極化強度Jm、磁場強度Hm、比視在功率Ss、振幅磁導率,以及交流磁化曲線和損耗曲線。
主要特點
⑴ 采用Windows測量軟件,操作方便。
⑵ 采用伏安法和數字積分測量動態磁滯回線,可準確測量μa、δ、Ps、Br和Hc等動態磁特性參數。
⑶ 第三代信號源技術,初級輸出低至10mV時,仍保持較高的信噪比。
⑷ 運用數字動態反饋處理技術,次級電壓信號測量小可達到1mVrms。
⑸ 運用數字波形補償技術,通過數字合成、移相等數字處理技術的應用,保證被測樣品在接近飽和磁化狀態下時次級電壓的波形因數,測量結果準確。
⑹ 全頻率范圍鎖定磁場測量,初級勵磁電流小分辯率0.01mA。適合電流互感器磁芯等器件的交流磁化曲線測量。
⑺ 裝置主機整體散熱風道設計,可滿足連續裝置在連續大功率條件測量環境下的性。
⑻ 裝置主機采用4.5寸854×480高分辨率IPS顯示屏,實時顯示電壓參數和波形狀態。
⑼ 自動連續測量多達255個測試點,每個測試點的測試時間約30秒(與樣品相關),多點測試可選擇固定頻率、固定Bm或固定Hm。
磁性材料自動測量系統 ZX311-MATS-3000M

裝置技術參數
1、工作環境
輸入電源 單相200V~240V,50Hz±10%,大10A
使用環境 環境溫度:23±5℃;環境濕度:30~75%RH
外磁場干擾 應絕對避免
熱平衡時間 10分鐘
2、測量范圍
適用標準 GB/T 3655-2008 、GB/T 13789-2008、GB/T 3658-2008、GB/T 19346.1-2007、IEC 60404-2、IEC 60404-3、IEC 60404-6
測量材料 可測量電工鋼(硅鋼)、軟磁鐵氧體、坡莫合金、非晶/納米晶和電工純鐵等軟磁材料
樣品形狀 可采用愛潑斯坦方圈或磁導計測量片狀和條狀等開路樣品
可繞線測量環形、EE/EI型、UU/UI、矩形、CD型和雙孔等閉路樣品
測量參數 Ps、Jm、Hm、Ss,μa、δ、Br和Hc,可推算特定條件下的μ′、μ″、μL、μR、Q和AL等參數。
3、裝置參數
型號
參數 MATS-3000M/k50B
大輸出功率 500VA正弦波(20Hz-40Hz:150VA;40Hz-1KHz:500VA;1KHz-2K Hz為350VA)
頻率范圍 40Hz~1.2k
頻率細度 1Hz
輸出電壓 0~1V~10V~50V~150V 四檔自動量程
大輸出電流 0~10A
電流采樣 6.33mA~20A,八檔自動量程
電壓采樣 1V~316V,六檔自動量程
測量模式 鎖B 有
鎖H 有
保護功能 過熱、過流、過壓和參數保護
數據采集卡 采樣速率:40MHz×2通道;分辨率和線性度:12Bit±1/2LSB
工控計算機 研華IPC-510或研祥IPC-810
操作系統 Windows XP或Windows 7
打印機 黑白激光打印機
4、系統參數
4.1、依據國標GB/T 3655-2000,在50Hz、60Hz頻率下,使用25cm愛潑斯坦方圈測量30×300的硅鋼標樣,技術指標如下:
被測參數 Ps(%) Ss(%) Hrms(%) Bm(%) Hm(%)
不確定度(k=2) 1 1 2 1 2
重復性(恒溫) ± 0.5 ± 0.5 ± 1 ± 0.5 ± 1
備注 鎖B測試:無取向片Bm≤1.5T
取向片Bm≤1.7T 鎖H測試:無取向片Hm≥1000A/m
取向片Hm≥500A/m
4.2、依據國標GB/T 13789-2008,在50Hz、60Hz頻率下,使用SST-500單片磁導計測量500×500的硅鋼標樣,技術指標如下:
被測參數 Ps(%) Ss(%) Hrms(%) Bm(%) Hm(%)
不確定度(k=2) 1.5 1.5 2 1 3
重復性(恒溫) ± 0.5 ± 0.5 ± 1 ± 0.5 ± 1
備注 鎖B測試:無取向片Bm=0.8~1.5T
取向片Bm=1.0~1.8T 鎖H測試:無取向片Hm≤10000A/m取向片Hm≤1000A/m
4.3、依據國標GB/T 3658-2008,在20Hz~2kHz頻率下,測量坡莫合金環形試樣,技術指標如下:
被測參數 Ps(%) μa(%) δ(%) Bm(%) Hm(%)
不確定度(k=2) 3 2 - 1 1
重復性(恒溫) ± 1.5 ± 1 ± 1 ± 0.5 ± 0.5
備注 1、試樣應為薄壁環,外徑/內徑≤1.25。
2、測試前應先退磁,退磁場頻率≤測試頻率。
3、不確定度為“-",表示國標中不要求。
4.4、依據國標GB/T 19346.1-2007,測量非晶環形試樣,技術指標如下:
被測參數 Ps(%) Ss(%) μa(%) δ(%) Bm(%) Hm(%)
不確定度(k=2) 5 5 3 - 1 2
重復性(恒溫) ± 3 ± 2.5 ± 2 ± 2 ± 0.5 ± 1
備注 ㈠.試樣應為薄壁環,外徑/內徑≤1.5。
㈡.鎖B測試,且Bm=100mT~200mT;測試前應先退磁,退磁場頻率≤測試頻率。
㈢.不確定度為“-",表示國標中不要求。

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